Scanning Electron Microscope
制 造 商：日本日立（Hitachi）公司
仪器型号：FlexSEM 1000
技术参数：
1、4.0 nm @ 20 kV（SE：高真空模式）
2、5.0 nm @ 20 kV（BSE：低真空模式）
3、加速电压：0.3-20 kV
4、放大倍数：6~300000倍
5、EDS检测元素范围：Be以上
6、最大样品尺寸：直径80 mm
最大样品高度：40 mm
功能用途：
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。具有较高放大倍数、大景深、成像富有立体感等优点，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构。配有X射线能谱仪（EDS）装置，可同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。广泛地应用于化学、化工、医药、高分子、材料等领域的微观研究，在科研和生产中具有重要作用。
管理员：汪小伟 电话：13837936574
